2014-12-08
美國(guo)麥奇克(ke)3D顆粒圖像分析儀EPS0814 1-3 / Koplen F 1089(EPS)測試
顆粒尺寸分析(xi)儀用于測(ce)量顆粒的(de)形狀和大小(xiao)分布。本分析(xi)儀用于實驗室測(ce)試(shi)。
樣品(pin)必須手(shou)動取自目標產品(pin)的(de)顆粒流,然后放置到分析儀測量(liang)器皿(min)中。
采用計(ji)算機可視化技(ji)術(shu)進行分析,先對樣品進行圖(tu)像快(kuai)照(zhao),并存貯(zhu)于計(ji)算機
中,然后對(dui)圖(tu)像(xiang)進行分(fen)析。
1. 測量(liang)顆粒尺寸
2. 測(ce)量顆粒的圓(yuan)度
3. 統(tong)計顆(ke)粒數量
PartAn 3D特(te)點
PartAn 3D采用多(duo)次成像方(fang)式方(fang)式進行樣品分析,
zui高成像(xiang)速度可達170圖/秒。
在多成像(xiang)模式下,樣品(pin)中的(de)每(mei)個顆粒(li)都被從(cong)不同(tong)
的(de)角(jiao)度多次測量(liang)。這樣會得到更多、更的(de)關
于樣品尺寸、形(xing)狀分布的(de)信息。
PartAn 3D測量原理
樣品(pin)(1)被倒(dao)入料筒(2)準備測量。振動器
(3)振動使顆粒(4)平鋪開來,
然后從可調節(N:變(bian)窄;W:變(bian)寬(kuan))
流量的(de)縫隙(10)中落(luo)下,zui后(hou)落(luo)入(ru)樣品收集盒(he)(11)。
顆(ke)粒在下落過程中,攝像頭(tou)會記錄下落顆(ke)粒在閃光燈
(5)閃光時的影像。
顆粒的影像被傳送到計算機進行分析和計算,計算的結果被顯示在屏幕上。
光源和樣品伺服(振動器)都是自動控制的。
振動器的控制是以視頻圖像中覆蓋顆粒的區域基礎的。
在此區域(振動器(qi)設置(zhi)點(dian)位)取決于(yu)當分析儀將實驗室(shi)屏幕標準化。
PartAn 3D測量結(jie)果
測量結果包括:
面積(ji) 顆粒覆(fu)蓋的(de)像素數
周(zhou)長 顆(ke)粒周(zhou)圍(wei)的像(xiang)素數(shu)
長度(du) 顆粒zui長方向上的像素(su)數
厚(hou)度 顆粒zui厚(hou)方向上的像素(su)數(shu)
數量(liang) 圖(tu)像中的顆(ke)粒數
覆(fu)蓋(gai)(gai) 計算圖像中被(bei)顆粒(li)覆(fu)蓋(gai)(gai)的面積(ji)百(bai)分比(bi)
分(fen)析圖像采集速率為(wei)110副/秒。每個顆粒(li)分(fen)析5-6次。
分析(xi)每(mei)個粒子的寬度,這種(zhong)測(ce)量方法相比于標準(zhun)篩選分析(xi)要好。
PartAn 軟件可以保存分析得到的(de)(de)每個顆粒(li)的(de)(de)圖像,在測量完(wan)成(cheng)后(hou),可以查(cha)看顆粒(li)的(de)(de)不規(gui)則形狀。
測(ce)試結(jie)論
Microtrac PartAn 3D能夠多次分析樣品中所有的顆粒并給出以下信息:
1. 正確的顆粒大小
2. 正確的顆粒形狀
3. 不規則顆粒的總量
4. 非圓形顆粒的濾函數
5. 長度和厚度的濾函數
6. Microtrac PartAn 3D的結果非常接近篩分分析的結果
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