經過近半個世紀的不斷探索，開發出一代又一代先進的激光粒度分析儀。全新的S3500系列激光粒度分析儀以革新的技術，拓(tuo)展(zhan)測試下限至0.01μm。它采用(yong)現(xian)代模塊(kuai)式(shi)設計，內置(zhi)高能量，高穩定(ding)性(xing)，超(chao)長(chang)壽命的固體(ti)二級(ji)管激光器(qi)。對非球形顆(ke)粒(li)的米氏理論修(xiu)正，保(bao)證每一次樣品分(fen)析的測量精(jing)度(du)。

Microtrac S3500系(xi)列(lie)產(chan)品(pin)

藍波2型(BWDL))：濕(shi)法測量范圍：0.01-2,800μm；

藍波1型(BWSL))：濕法測量范圍：0.01-2,000μm；

增強型(Enhanced)：濕法測量范圍：0.02-2,800μm；

擴(kuo)展型(eXtended)：濕法測量范圍：0.02-2,000μm；

特殊型(speciaL)：濕法測量(liang)范(fan)圍：0.09-1,500μm；

標準型(Standard)：濕法測量范圍(wei)：0.25-1,500μm；

高端型(High)：濕(shi)法測量范(fan)圍：2.75-2,800μm；

基本型(xing)(Basic)：濕法測量(liang)范(fan)圍：0.70-1,000μm；

* 歡迎定制(zhi)更寬的測量范(fan)圍(wei)

主要(yao)特點：

• Tri-Laser激光系統, *消除(chu)了不(bu)同(tong)波長光源(yuan)對顆粒散(san)射光分(fen)布“連接點(dian)"的(de)影響和多次(ci)米氏理(li)(li)論(lun)（Mie Theory）數學處理(li)(li)的(de)誤差（米氏理(li)(li)論(lun)處理(li)(li)與波長有關）;

• “Bluewave"激(ji)光技術，拓展(zhan)測量下(xia)限(xian)至0.01μm;

• 無需(xu)掃描，同(tong)步接受全(quan)量程散射光信(xin)號，保證分析結果的高重(zhong)現(xian)性(xing)及全(quan)量程范(fan)圍的高分辨率;

• 引(yin)進“非球(qiu)形"顆粒概念對米氏理論計(ji)算的校正因子，內置常用分析物質(zhi)光學數(shu)據庫(ku)，提高顆粒粒度分布測試(shi)的準確性;

• 系(xi)統自動(dong)對光，內置輔助光源用于檢(jian)驗和(he)校正檢(jian)測器(qi)的靈敏度;

• 多(duo)種(zhong)樣品分(fen)散系統可供選擇(ze)，各種(zhong)分(fen)散系統之間的轉換簡單方便，結果穩定(ding)一致;

• 現代(dai)模塊(kuai)式(shi)設計，可根(gen)據實際應用需要(yao)允(yun)許(xu)選擇儀(yi)器的配置，以滿足(zu)將來的任何需要(yao);

• 數據(ju)處理靈活方便，體積分(fen)布，數量(liang)分(fen)布和強度分(fen)布，微分(fen)與累計百分(fen)比以及其他(ta)綜合報告形式任(ren)意組合，數據(ju)存儲兼容性強;

• NIST(National Institute of Standards & Technology)標準(zhun)物質認證儀器;

日本型號(hao)：MT3300、MT3200、MT3100