納米粒度測量——先進的動態光背散射技術

Zeta電位測量：Microtrac MRB以其(qi)在激光衍射(she)/散(san)射(she)技術和(he)顆(ke)(ke)粒表征方面(mian)的(de)(de)獨到(dao)見解，經過多(duo)(duo)年(nian)的(de)(de)市場(chang)調研(yan)(yan)和(he)潛心研(yan)(yan)究，開發出新(xin)一(yi)代(dai)NANOTRAC WAVE II微(wei)電場(chang)分(fen)(fen)析(xi)技術，融(rong)納(na)米顆(ke)(ke)粒粒度(du)分(fen)(fen)布與Zeta電位測(ce)量于一(yi)體，無需傳統的(de)(de)比(bi)色皿(min)，一(yi)次進樣即可(ke)(ke)得到(dao)準(zhun)確的(de)(de)粒度(du)分(fen)(fen)布和(he)Zeta電位分(fen)(fen)析(xi)數(shu)據。與傳統的(de)(de)Zeta電位分(fen)(fen)析(xi)技術相比(bi)，NANOTRAC WAVE II采用(yong)先進的(de)(de)“Y"型光纖(xian)探(tan)針光路設(she)計，配置膜電極(ji)產生(sheng)微(wei)電場(chang)，操作簡單，測(ce)量迅(xun)速，無需精確定位由于電泳(yong)和(he)電滲等效應(ying)導(dao)致的(de)(de)靜止(zhi)層，無需外(wai)加大功(gong)率電場(chang)，無需更換(huan)分(fen)(fen)別用(yong)于測(ce)量粒度(du)和(he)Zeta電位的(de)(de)樣品池，*消(xiao)除由于空間(jian)位阻(zu)（不同光學元器件間(jian)的(de)(de)傳輸損失，比(bi)色皿(min)器壁的(de)(de)折(zhe)射(she)和(he)污(wu)染，比(bi)色皿(min)位置的(de)(de)差異，分(fen)(fen)散(san)介質的(de)(de)影響，顆(ke)(ke)粒間(jian)多(duo)(duo)重散(san)射(she)等）帶來的(de)(de)光學信號的(de)(de)損失，結(jie)果(guo)準(zhun)確可(ke)(ke)靠，重現性好(hao)。

測量原理：

粒(li)度測量：動態(tai)光背散射技(ji)術和全量程米氏(shi)理論(lun)處理

Zeta電位測(ce)量：膜電極(ji)設計與“Y"型探頭形成微電場測(ce)量電泳遷移率

分子量測量：水(shui)力直(zhi)徑或(huo)德拜(bai)曲線

光學系統：

3mW780nm半導體固定位置(zhi)激光(guang)(guang)器，通過(guo)梯(ti)度步進光(guang)(guang)纖直接照射(she)樣品，在固定位置(zhi)用硅(gui)光(guang)(guang)二(er)極(ji)管接受背散射(she)光(guang)(guang)信號，無需校正光(guang)(guang)路

軟件系統：

先進的FLEX軟件提供強(qiang)大(da)的數據(ju)處(chu)理能力，包(bao)括(kuo)(kuo)圖形(xing)，數據(ju)輸(shu)出/輸(shu)入，個性化輸(shu)出報告，及各種文(wen)字處(chu)理功能，如PDF格式輸(shu)出, Internet共享數據(ju)，Microsoft Access格式（OLE）等。體(ti)積，數量，面積及光強(qiang)分(fen)布，包(bao)括(kuo)(kuo)積分(fen)/微分(fen)百(bai)分(fen)比和(he)(he)其他分(fen)析統計數據(ju)。數據(ju)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求(qiu)，包(bao)括(kuo)(kuo)口令保護，電子簽名和(he)(he)指(zhi)定授權等。

外部環境：

電源要求(qiu)：90-240VAC，5A，50/60Hz

環境要求：溫度(du)，10-35°C

國際標準：符(fu)合(he)ISO13321，ISO13099-2:2012 和(he) ISO22412:2008

主要特點(dian)：

• 采用先進的動態光(guang)散射技術，引入(ru)能普概念代替傳統光(guang)子相關光(guang)譜法

• “Y"型光纖光路系(xi)統，通過藍(lan)寶(bao)石測(ce)(ce)量(liang)窗(chuang)口，直接測(ce)(ce)量(liang)懸浮體(ti)系(xi)中的(de)顆(ke)粒(li)粒(li)度分布，在加載(zai)電流的(de)情況下，與膜電極對(dui)應產生(sheng)微電場(chang)，測(ce)(ce)量(liang)同一體(ti)系(xi)的(de)Zeta電位(wei)， 避免樣品交叉污染與濃度變化(hua)。

• 異相多譜勒頻移技術，較(jiao)之傳統的方法，獲(huo)得光信號(hao)強度(du)高出(chu)幾個(ge)數(shu)量級，提高分析結果(guo)的可靠性(xing)。

• 可(ke)控參(can)比方法（CRM），能精細分析多(duo)譜勒頻移產生(sheng)的能譜，確保分析的靈敏(min)度。

• 超短的(de)顆粒(li)在懸浮液中的(de)散射光程設計，減(jian)少了(le)多重(zhong)散射現象的(de)干擾，保證高濃度溶液中納米(mi)顆粒(li)測試的(de)準確性。

• 快速(su)傅利(li)葉變換算(suan)法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速(su)處理(li)檢測(ce)系(xi)統獲得的能譜，縮短分析時間。

• 膜電(dian)極設計，避免產生(sheng)熱效應(ying)，能準確測量顆(ke)粒電(dian)泳速度。

• 無需比(bi)色皿，毛(mao)細管電泳(yong)池(chi)或外加電極池(chi)，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得(de)到分析結果(guo)

• 消除(chu)多(duo)種空間(jian)位阻對(dui)散射(she)光(guang)信(xin)號(hao)的(de)(de)干擾，諸如光(guang)路中(zhong)不(bu)同(tong)光(guang)學元器件間(jian)傳(chuan)輸的(de)(de)損失(shi)，樣品池位置不(bu)同(tong)帶來的(de)(de)誤(wu)差，比色皿器壁的(de)(de)折(zhe)射(she)與污染，分散介質的(de)(de)影(ying)響，多(duo)重散射(she)的(de)(de)衰減等，提高靈敏度。