真密(mi)度(du)(du)(du)（True Density ）指材料在絕對(dui)密(mi)實狀態下的體(ti)積內固體(ti)物質的實際(ji)體(ti)積，不包括(kuo)內部孔隙或者顆粒(li)間的空隙（叫(jiao)真密(mi)度(du)(du)(du)）。與之相對(dui)應的物理性質還有(you)表觀密(mi)度(du)(du)(du)和堆積密(mi)度(du)(du)(du)。
Microtrac MRB全新設計的全自動真密度分析儀BELPYCNO采用氦氣、氮氣和SF6 等惰性氣體做為置換介質。樣品密封在已知體積的樣品室中，一定壓力的惰性氣體進入樣品室，然后氣體膨脹到另外一個膨脹室中。膨脹前后的壓力由傳感器測定并計算得到樣品的體積，用樣品稱重的質量除以測定出來的體積得到樣品的真密度。
• 配件室內(nei)置在儀(yi)器主(zhu)機里，方便用(yong)戶取(qu)用(yong)
• 不同尺寸的校準球和樣(yang)品(pin)室、夾取鑷子存(cun)放在配件室中
• 儀器帶有(you)安全閥設計，過高進氣壓力通過安全閥排氣來降低
| 精度 | ±0.03%（F.S. of readings） |
| 重復性 | ±0.02%（F.S. of 10cc） |
| 測量溫度范圍 | 15°C~35°C 15°C~50°C（需要配備恒溫槽系統） |
| 測量壓力范圍 | 大氣層~150千帕 |
Microtrac MRB：作為一個顆粒表征解決方案的供應商，提供三條產品線，在三大洲擁有研發和技術中心。
散射(she)光分折(zhe): Microtrac MRB作為粒度測量的通用方法—靜態激光衍射法的領導者，還提供(gong)的動態光散射納(na)米(mi)粒度儀，用于納(na)米(mi)顆(ke)粒的表征。該(gai)產(chan)(chan)品線的開發和生產(chan)(chan)地點位于美國的賓夕法尼亞(ya)州。
圖像(xiang)分(fen)析: Microtrac MRB基于動態圖像分析技術，為顆粒大小和形態的測定提供了高質量的PartAn系列測量系統。這些圖像分析儀的開發和生產地點位于德國的哈恩。
比表(biao)面和孔徑測量: Microtrac MRB的另外一條產品線采用氣體吸附法為粉體樣品的比表面值，BET值和孔徑測量提供了吸附系列的分析儀器。開發和生產以及裝配地點位于日本大阪的表面分析中心。
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