Microtrac Inc.新一代納米/Zeta電位分析儀問世
2008-12-22
美國(guo)麥奇(qi)克有限公司（Microtrac Inc.）是世界上的激(ji)光應用(yong)技術(shu)研究和制造廠商(shang)，前(qian)身為(wei)Leeds & Northrup 研(yan)究所，近半個世紀(ji)以來，一(yi)直著(zhu)激光粒度分(fen)(fen)析的前沿技術，可靠的產品和強大的應用(yong)支持及完善(shan)的售(shou)后服務，使得其先(xian)進的激光粒度分(fen)(fen)析技術被廣泛(fan)地應用(yong)于石油，石化(hua)，水泥，磨料(liao)，冶金，制藥，陶(tao)瓷等領(ling)域(yu)，并(bing)成為眾多行業*的質量(liang)檢測和控制的分(fen)(fen)析儀器。
美國(guo)麥奇克(ke)有限公司（Microtrac Inc.）以其(qi)在激光衍射/散射技(ji)術和顆(ke)粒(li)表征方(fang)面的獨(du)到見解，經過多(duo)年的市場調研和潛心研究，開發(fa)出一代Zetatrac微電場分析技術，融納米(mi)顆(ke)粒粒度分布與Zeta電(dian)位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進(jin)樣即可得到準(zhun)確的粒度分布和Zeta電(dian)位(wei)分(fen)析數(shu)據。與傳(chuan)統的Zeta電位分析技(ji)術(shu)相比，Zetatrac采(cai)用先進的“Y”型(xing)光(guang)纖探針光(guang)路設計，配置膜電(dian)(dian)極產生微電(dian)(dian)場，操作簡單，測(ce)量迅(xun)速，無需定(ding)位由于(yu)電(dian)(dian)泳和電(dian)(dian)滲等效應導致(zhi)的靜止層，無需外加大功率電(dian)(dian)場，無需更換分(fen)別用于(yu)測(ce)量粒度和Zeta電位(wei)的(de)樣品(pin)池，*消除由于(yu)空間(jian)位(wei)阻(zu)（不(bu)同光學元器件間(jian)的(de)傳(chuan)輸(shu)損(sun)失，比色皿(min)器壁(bi)的(de)折射和污染，比色皿(min)位(wei)置的(de)差異，分散介質的(de)影響，顆粒間(jian)多重散射等）帶來的(de)光學信號的(de)損(sun)失，結果準確可(ke)靠，重現性(xing)好。
以研究開發見長的美(mei)國(guo)麥奇克有限(xian)公司，幾經坎坷，在(zai)激(ji)烈(lie)的市場(chang)(chang)競爭中始終立于不敗(bai)之地。尤(you)其(qi)(qi)是在(zai)日本市場(chang)(chang)，憑(ping)借其(qi)(qi)*的性價比，各(ge)行業用戶總數(shu)高達2,500多臺，成為日本粉體工業協(xie)會的*品牌。自(zi)2004年底進入中國市(shi)場以(yi)來，作為專業激光粒度分析儀(yi)的者，采用的光散射/衍射(she)技術(shu)，全自動(dong)化(hua)的設(she)計帶來(lai)的靈敏度和重復性，在(zai)中(zhong)國的石油石化(hua)，環保控制，材料科(ke)學，國防(fang)，航空航天，礦(kuang)物(wu)加工等領域享有(you)很高的聲望。
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