2011-04-12
美國(guo)魯道(dao)夫公(gong)司在美國(guo)Pittcon展會盛世推(tui)出(chu)全(quan)新折光儀J457。J457除(chu)繼(ji)承之前(qian)J系列的優(you)良性(xing)能(neng)，更配(pei)有全(quan)新Smart Measure™ 智能(neng)測量技術，*的雙控溫(wen)系統，并有防(fang)水防(fang)塵設計 適用于(yu)各種環(huan)境中(zhong)，滿足不同(tong)的實驗室環(huan)境的要求（壁(bi)掛式(shi)，分體式(shi)）。
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