X射線熒光分析的基本原理
2021-08-20
熒光，顧名思義就是在光的照射下發出的光。X射線熒光就是被分析樣品在X射線照射下發出的X射線，它包含了被分析樣品化學組成的信息，通過對上述X射線熒光的分析確定被測樣品中各組份含量的儀器就是X射線熒光分析儀。
從原子物理學的知識我們知道，對每一種化學元素的原子來說，都有其特定的能級結構，其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行，內層電子在足夠 能量的X射線照射下脫離原子的束縛，成為自由電子，我們說原子被激發了，處于激發態，這時，其他的外層電子便會填補這一空位，也就是所謂躍遷，同時以發出 X射線的形式放出能量。由于每一種元素的原子能級結構都是特定的，它被激發后躍遷時放出的X射線的能量也是特定的，稱之為特征X射線。通過測定特征X射線 的能量，便可以確定相應元素的存在，而特征X射線的強弱(或者說X射線光子的多少)則代表該元素的含量。
量(liang)子(zi)(zi)力學知識告(gao)訴我們(men)，X射線具有(you)(you)波(bo)粒(li)二(er)象性，既可以看(kan)(kan)作粒(li)子(zi)(zi)，也可以看(kan)(kan)作電(dian)磁波(bo)。看(kan)(kan)作粒(li)子(zi)(zi)時的能量(liang)和看(kan)(kan)作電(dian)磁波(bo)時的波(bo)長(chang)有(you)(you)著一一對(dui)應(ying)關系。這就是(shi)著名的 普朗克(ke)公式：E=hc/ λ。顯然，無(wu)論是(shi)測(ce)定能量(liang)，還是(shi)波(bo)長(chang)，都可以實現對(dui)相應(ying)元素的分(fen)析，其效(xiao)果(guo)是(shi)*一樣的。
在線客服