納米粒度及zeta電位儀有哪些特點
2019-12-26
1.膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。
2.快速傅利葉變換算法，迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。
3.納米粒度及zeta電位儀采用新的動態光散射技術，引入能普概念代替傳統光子相關光譜法。
4.“Y”型光纖光路系統，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應產生微電場，測量同一體系的Zeta電位，避免樣品交叉污染與濃度變化。
5.納米粒度及zeta電位儀可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。
6.異相多譜勒頻移技術，較之傳統的方法，獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。
7.無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果。
8.超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。
9.消除(chu)多(duo)(duo)種空間位阻對散射光信號(hao)的干擾，諸(zhu)如光路中不同(tong)光學元(yuan)器件間傳輸的損失，樣品(pin)池位置不同(tong)帶(dai)來的誤差，比色(se)皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多(duo)(duo)重散射的衰(shuai)減等，提高靈敏度。
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