納米粒度測量——先進的動態光背散射技術
Zeta電(dian)位測量:Microtrac MRB以(yi)其在激光(guang)衍射/散射技術(shu)和(he)顆粒(li)表征方面的(de)(de)獨到(dao)見解,經過多(duo)年的(de)(de)市場(chang)(chang)調研和(he)潛心研究,開發出新一代NANOTRAC WAVE II微電(dian)(dian)場(chang)(chang)分(fen)析技術(shu),融納米顆粒(li)粒(li)度(du)分(fen)布(bu)與Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)測量(liang)(liang)于(yu)一體(ti),無(wu)需傳統的(de)(de)比(bi)(bi)色皿(min),一次進(jin)樣即可得到(dao)準(zhun)確(que)的(de)(de)粒(li)度(du)分(fen)布(bu)和(he)Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)分(fen)析數據。與傳統的(de)(de)Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)分(fen)析技術(shu)相比(bi)(bi),NANOTRAC WAVE II采用(yong)先進(jin)的(de)(de)“Y"型(xing)光(guang)纖探針光(guang)路設計,配置(zhi)膜(mo)電(dian)(dian)極產生微電(dian)(dian)場(chang)(chang),操作簡單,測量(liang)(liang)迅速,無(wu)需精確(que)定位(wei)(wei)(wei)由于(yu)電(dian)(dian)泳(yong)和(he)電(dian)(dian)滲(shen)等效(xiao)應(ying)導致(zhi)的(de)(de)靜止層,無(wu)需外加大功(gong)率(lv)電(dian)(dian)場(chang)(chang),無(wu)需更換(huan)分(fen)別用(yong)于(yu)測量(liang)(liang)粒(li)度(du)和(he)Zeta電(dian)(dian)位(wei)(wei)(wei)的(de)(de)樣品池,*消除(chu)由于(yu)空間(jian)位(wei)(wei)(wei)阻(不(bu)同光(guang)學(xue)元器件間(jian)的(de)(de)傳輸損(sun)失(shi),比(bi)(bi)色皿(min)器壁(bi)的(de)(de)折射和(he)污染,比(bi)(bi)色皿(min)位(wei)(wei)(wei)置(zhi)的(de)(de)差異,分(fen)散介質的(de)(de)影響,顆粒(li)間(jian)多(duo)重散射等)帶來的(de)(de)光(guang)學(xue)信號的(de)(de)損(sun)失(shi),結果準(zhun)確(que)可靠,重現性(xing)好。
測量原理(li):
粒度測量:動態(tai)光背散(san)射技術(shu)和全量程米氏理(li)論處理(li)
Zeta電位測(ce)量(liang):膜電極(ji)設(she)計(ji)與(yu)“Y"型(xing)探(tan)頭形成微電場(chang)測(ce)量(liang)電泳遷移率
分子量測量:水(shui)力直(zhi)徑(jing)或德拜(bai)曲線(xian)
光學系統:
3mW780nm半導體固定位置激(ji)光(guang)器,通過(guo)梯(ti)度步(bu)進光(guang)纖直(zhi)接(jie)照射(she)樣品,在固定位置用(yong)硅光(guang)二極管接(jie)受(shou)背散射(she)光(guang)信號(hao),無需校正光(guang)路
軟件系統:
先進(jin)的FLEX軟件提供強大(da)的數據(ju)(ju)處理(li)能(neng)力,包括(kuo)(kuo)圖形,數據(ju)(ju)輸出(chu)/輸入,個性(xing)(xing)化(hua)輸出(chu)報告,及各種文字處理(li)功能(neng),如PDF格式(shi)(shi)輸出(chu), Internet共(gong)享數據(ju)(ju),Microsoft Access格式(shi)(shi)(OLE)等。體積,數量,面積及光強分(fen)布(bu),包括(kuo)(kuo)積分(fen)/微分(fen)百分(fen)比和其他分(fen)析統計數據(ju)(ju)。數據(ju)(ju)的完(wan)整性(xing)(xing)符合21 CFR PART 11安全(quan)要求,包括(kuo)(kuo)口令保護,電子簽名和指定授權等。
外部環(huan)境:
電源(yuan)要(yao)求:90-240VAC,5A,50/60Hz
環境要(yao)求:溫度,10-35°C
國際標準(zhun):符合(he)ISO13321,ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008
主要特點(dian):
• 采用先進(jin)的動態光散(san)射技術(shu),引入能普概念代替傳(chuan)統(tong)光子相關光譜法
• “Y"型光纖光路系統,通過藍寶(bao)石測量窗(chuang)口(kou),直接測量懸浮體系中的(de)顆粒粒度分布,在加(jia)載電流的(de)情況下,與膜(mo)電極(ji)對應(ying)產生微電場(chang),測量同一體系的(de)Zeta電位, 避免樣品(pin)交叉污染與濃度變化。
• 異相多譜勒頻移技術,較之傳統的(de)方法,獲得(de)光信號強度高(gao)出幾個數量級,提高(gao)分析結(jie)果的(de)可靠性(xing)。
• 可控參比方(fang)法(CRM),能精細(xi)分析多(duo)譜勒頻移產生(sheng)的(de)能譜,確保(bao)分析的(de)靈敏度。
• 超(chao)短的(de)顆粒在懸浮液(ye)中的(de)散射光程設計(ji),減少了多重散射現象的(de)干擾,保(bao)證高濃度(du)溶液(ye)中納米(mi)顆粒測試(shi)的(de)準確性(xing)。
• 快速傅利葉變(bian)換算法(FFT,Fast FourierTransform Algorithm Method),迅(xun)速處理檢(jian)測系統獲(huo)得的(de)能譜,縮(suo)短分析(xi)時間(jian)。
• 膜電極設(she)計,避免產生熱效應,能(neng)準確(que)測(ce)量顆粒電泳速度。
• 無需(xu)比色(se)皿,毛細(xi)管電泳池或外加電極池,僅需(xu)點擊Zeta電位操(cao)作(zuo)鍵,一分(fen)鐘內即可(ke)得到(dao)分(fen)析結果
• 消除多種空間位阻對散(san)(san)射(she)(she)光(guang)信號的(de)(de)(de)干(gan)擾,諸如(ru)光(guang)路中不同(tong)(tong)光(guang)學元器件間傳輸的(de)(de)(de)損(sun)失(shi),樣品(pin)池(chi)位置(zhi)不同(tong)(tong)帶來的(de)(de)(de)誤差,比(bi)色(se)皿器壁的(de)(de)(de)折射(she)(she)與污(wu)染(ran),分散(san)(san)介質(zhi)的(de)(de)(de)影響(xiang),多重散(san)(san)射(she)(she)的(de)(de)(de)衰(shuai)減等,提高(gao)靈敏度。
粒度分析范圍 | 0.3nm-10µm |
重現性 | 誤差≤1% |
濃度范圍 | 100ppb-40%w/v |
檢測角度 | 180° |
分析時間 | 30-120秒 |
準確性 | 全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 |
測量精度 | 無需預選,依據實際測量結果,自動生成單峰/多峰分布結果 |
理論設計溫度 | 0-90℃,可以進行程序升溫或降溫 |
兼容性 | 水相和有機相 |